EIGER2 R多能混合像素光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器探測(cè)器，為世界同行中罕見(jiàn)的雙能探測(cè)器，和布魯克D8系統(tǒng)中有成熟的合作，為行業(yè)中的*，探測(cè)器的詳細(xì)參數(shù)如下：
1、DECTRIS多能混合像素光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器?產(chǎn)品特點(diǎn)：
我們一直持續(xù)致力于不斷的探索研究去突破技術(shù)壁壘，以獲得更為高效的測(cè)試過(guò)程及測(cè)試裝置，使測(cè)試性能趨于完美。目前我們?cè)谕絻x器及科學(xué)研究領(lǐng)域所取得的巨大成就已充分證明了這一點(diǎn)。
新型的EIGER X 系列探測(cè)器可以為要求極為苛刻的同步應(yīng)用提供好的探測(cè)性能。具有連續(xù)讀數(shù)能力的千赫茲幀速率的成像能力為時(shí)分類實(shí)驗(yàn)和XPCS提供了一種全新的手段，使得像ptychography類的慢速掃描成像技術(shù)成為可能。高分辨率和連續(xù)的衍射實(shí)驗(yàn)受益于較小的成像尺寸，通過(guò)X射線的直接轉(zhuǎn)換可以獲得的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)。在理想情況下每單元面積的高計(jì)數(shù)速率可以與持續(xù)增加的波速線亮度相匹配。
2、DECTRIS多能混合像素光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器核心優(yōu)勢(shì)：
- 混合成像計(jì)數(shù)：?jiǎn)喂庾映上裼?jì)數(shù)模式下的X射線直接轉(zhuǎn)換能力
- 千赫幀速率工作周期> 99%
- 3μs時(shí)間下的連續(xù)采集模式
- 5μm像素尺寸的高空間分辨率
- 計(jì)數(shù)器高達(dá)每平方毫米每秒5億張
- 無(wú)讀出噪聲和暗電流
- 極其緊湊的外殼
3、應(yīng)用領(lǐng)域：
-X射線光子相關(guān)光譜(XPCS)
- Ptychography(疊層衍射)成像技術(shù)
- 時(shí)間分辨實(shí)驗(yàn)
- 大分子晶體學(xué)(MX)
- 單晶衍射(SCD)
- 粉末衍射(PD)
- 表面衍射
- 小廣角/X光散射(粉煤灰/蠟)
- X射線成像
4、技術(shù)參數(shù)：
EIGER2 R | 500K | 1M | 4M |
探測(cè)器模塊數(shù)量 | 1 | 1 x 2 | 2 x 4 |
有效面積：寬x高 [mm2] | 77.2 x 38.6 | 77.2 x 79.9 | 155.2 X 162.5 |
像素大小 [μm2] | 75 x 75 | ||
點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù) | 1 pixel | ||
能量閾值 | 4 | ||
閾值范圍（KeV） | 大于120kev |
| 3.5-30 |
大計(jì)數(shù)率（cps/mm2） | 3.6×108 | ||
計(jì)數(shù)器深度（bit/threshold） | 2×16 | ||
采集模式 | 同時(shí)讀/寫(xiě)，死區(qū)時(shí)間為零 | ||
圖像位深度（bit） | 32 | ||
可選真空兼容 | Yes | ||
冷卻方式 | 風(fēng)冷 | 水冷 | 水冷 |
尺寸（WHD）[mm3] | 100 x 140 x 93 | 114 x 133 x 240 | 235 x 235 x 372 |
重量 [kg] | 1.8 | 3.9 | 15 |
